Optics Japan 2004



5aP10 陳 軍

GaN系青紫レーザを用いた波長走査法位相シフト干渉計

次世代光記録デバイスの開発製造において青紫色波長の干渉計が重要である。我々はGaN系レーザの注入電流による発振波長の偏移特性を利用し、405nm波長帯の波長走査干渉計を構成し、光ピックアップレンズの収差計測でその有効性を確認した。



Optical Society Of Japan
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