Optics Japan 2004



4pG7 大西 岳仁

スペクトラルホログラムを用いた超短光パルスのチャープ量測定器

スペクトラルホログラムを用いて超短光パルスのチャープ量を特定することができる測定器を提案する。用いるスペクトラルホログラムの特性を基に実現される測定器の性能を評価した。



Optical Society Of Japan
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